Параметры архитектоники АСМ-карт поверхности эпителиальных клеток карциномы молочной железы MCF-7

Abstract

В связи с расширением использования атомно-силовой микроскопии (АСМ) в медико-биологической науке актуальным становится нахождение параметров, количественно характеризующих распределение значений различных свойств поверхности клеток на наномасштабном уровне. Целью исследования являлось выявление особенностей поведения параметров шероховатости (Rq) и фрактальной размерности (DF), оцененных для АСМ-изображений поверхности фиксированных глутаровым альдегидом эпителиальных клеток карциномы молочной железы MCF-7 при изменении разрешения изображения, размеров области сканирования и участков поверхности клеток. Показано, что величина DF АСМ-карт ограничена минимально достижимым шагом сканирования. Совместный анализ Rq и DF АСМ-изображений выявил различие возможностей этих параметров и преимущество использования параметра зависимости DF от коэффициента масштабирования по оси Z (DF = f(t)) для характеристики тонкой структуры распределения значений локальных параметров карт топографии и механических свойств по поверхности клетки. Применяя зависимость DF = f(t) к АСМ-изображениям, можно количественно охарактеризовать различные по структурным свойствам части клетки (лидирующий край, центр с ядром и переходная область).